您好,歡迎來(lái)到北京博普特科技有限公司!
Product center
植物冠層分析儀如何測量葉面積指數,測量原理基于貝爾定律,結合Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論?;Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論所需要的已知參數包括:太陽(yáng)天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數,計算出冠層的有效LAI,結合聚集指數推算出真正的有效LAI。太陽(yáng)方位角即太陽(yáng)所在的方位,指太陽(yáng)光線(xiàn)在地平面上的投影與當地子午線(xiàn)的夾角。
便攜式植物冠層分析儀的功能,測量原理基于貝爾定律,結合Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論?;Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論所需要的已知參數包括:太陽(yáng)天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數,計算出冠層的有效LAI,結合聚集指數推算出真正的有效LAI。太陽(yáng)方位角即太陽(yáng)所在的方位,指太陽(yáng)光線(xiàn)在地平面上的投影與當地子午線(xiàn)的夾角。
法國HI-PHEN植物冠層分析儀,測量原理基于貝爾定律,結合Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論?;Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論所需要的已知參數包括:太陽(yáng)天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數,計算出冠層的有效LAI,結合聚集指數推算出真正的有效LAI。太陽(yáng)方位角即太陽(yáng)所在的方位,指太陽(yáng)光線(xiàn)在地平面上的投影與當地子午線(xiàn)的夾角。
便攜式植物冠層分析儀測量的是什么,測量原理基于貝爾定律,結合Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論?;Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論所需要的已知參數包括:太陽(yáng)天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數,計算出冠層的有效LAI,結合聚集指數推算出真正的有效LAI。太陽(yáng)方位角即太陽(yáng)所在的方位,指太陽(yáng)光線(xiàn)在地平面上的投影與當地子午線(xiàn)的夾角。
AIRPHEN植物冠層分析儀原理,測量原理基于貝爾定律,結合Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論?;Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論所需要的已知參數包括:太陽(yáng)天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數,計算出冠層的有效LAI,結合聚集指數推算出真正的有效LAI。太陽(yáng)方位角即太陽(yáng)所在的方位,指太陽(yáng)光線(xiàn)在地平面上的投影與當地子午線(xiàn)的夾角。
植物冠層分析儀品牌,人眼所能能識別的光譜區間為可見(jiàn)光區間,波長(cháng)從400nm到700nm;普通數碼相機的光譜響應區間與人眼識別的光譜區間相同,包含藍、綠、紅、三個(gè)波段;而多光譜相機的工作譜段范圍在其基礎上,可以分可見(jiàn)光、近紅外光、紫外光等每臺多光譜相機的分辨率不同,所應用的領(lǐng)域也不同就比如說(shuō)我們在做植被調查的時(shí)候,植被的可見(jiàn)光波段對綠色比較敏感對紅色和藍色反射較弱。